半導(dǎo)體芯片高低溫試驗(yàn)箱密封性不好會出現(xiàn)什么問題：
半導(dǎo)體芯片高低溫試驗(yàn)箱可以模擬高溫、低溫、濕熱交變循環(huán)等可靠性測試，比如做150℃高溫情況下，試驗(yàn)室內(nèi)外的壓差急劇增大，如果這時候溫箱的密封性不好的話會出現(xiàn)什么問題呢？
1、如果密封性不好，就會產(chǎn)生嚴(yán)重的漏氣，影響箱體內(nèi)的溫濕度。會導(dǎo)致偏差都、均勻度、波動度非常大，半導(dǎo)體芯片高低溫試驗(yàn)箱各個電纜孔、通氣排氣孔設(shè)計非常講究，設(shè)備不合理，導(dǎo)致空隙過大而密封不好。門密封條的問題也是關(guān)鍵。我們往往忽視這個問題，認(rèn)為密封條加上去了，而且在門的鉸鏈的壓制下應(yīng)該是密封的，可是，由于橡膠密封條的老化、硬軟度選擇不合理、密封條固定方式的不同而常常產(chǎn)生漏氣；
2、主要門的密封問題也是關(guān)鍵，由于恒溫恒濕試驗(yàn)箱通常體積比較大，箱門尺寸也隨之增大，結(jié)果重量很大，長時間的承重后致使垂直方向的鉸鏈產(chǎn)生位移而使開門錯位關(guān)閉不嚴(yán)。所以也會導(dǎo)致漏氣；
3、有的可能是本身設(shè)備設(shè)計問題，有的是維護(hù)這塊導(dǎo)致密封性不好。所以，我們在設(shè)備使用中要嚴(yán)格按設(shè)備維修手冊進(jìn)行經(jīng)常性的維護(hù)，確保設(shè)備正常運(yùn)行、技術(shù)參數(shù)不發(fā)生偏移。
所以半導(dǎo)體芯片高低溫試驗(yàn)箱在使用的時候這幾個方面是需要注意的哦，維護(hù)的同時也關(guān)注一下以上所說的，避免試驗(yàn)箱產(chǎn)生漏氣帶來的影響。 |
