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      芯片可靠度測試
      點擊次數(shù):1612 發(fā)布時間:【2019-08-08】

      可靠度技術(shù)概念

      可靠度是產(chǎn)品以標準技術(shù)條件下,在特定時間內(nèi)展現(xiàn)特定功能的能力,可靠度是量測失效的可能性,失效的比率,以及產(chǎn)品的可修護性。根據(jù)產(chǎn)品的技術(shù)規(guī)范以及客戶的要求,我們可以執(zhí)行不同規(guī)范的可靠度的測試。

       

      測試機臺種類


      高溫貯存試驗 (HTST, High Temperature Storage test)HONGZHAN PV-324

      低溫貯存試驗(LTST, Low Temperature Storage test)HONGZHAN :PL-4KP PSL-2KH

      溫濕度貯存試驗 (THST, Temperature & Humidity Storage test)HONGZHAN :PL-4KP PSL-2KH
       溫濕度偏壓試驗 (THB, Temperature & Humidity with bias test)HONGZHAN :PL-4KP PSL-2KH

      高溫水蒸汽壓力試驗 (Pressure Cooker test (PCT/UB-HAST)HONGZHAN EHS-221MD

      高加速溫濕度試驗 (HAST, Highly Accelerated Stress test )HONGZHAN EHS-221MD

      溫度循環(huán)試驗 (TCT, Temperature Cycling test)HONGZHAN TSA-71H

      溫度沖擊試驗 (TST, Thermal Shock test )HONGZHAN TSB-51

      高溫壽命試驗 (HTOL, High Temperature Operation Life test )KYEC KYE 680 SSE B1120M
      高溫偏壓試驗 (BLT, Bias Life test)KYEC KYE 680 SSE B1120M

      回焊爐 (Reflow Test):臺技 SMD-10-M16HAO



      技術(shù)原理

      可靠性可以定義為產(chǎn)品在特定的使用環(huán)境條件下,在既定的時間內(nèi),執(zhí)行特定功能,成功達成工作目標的機率。對于可靠性*直接影響的環(huán)境因子有,溫度變化、溫度、濕度、機械應力、電壓等等。可靠性測試主要針對組件在各種環(huán)境下進行實驗,以加速各組件老化及發(fā)生失效現(xiàn)象,進而達到改善設計、材料或是制程參數(shù)的目的。



      環(huán)境測試(Environment Test)

      · 高溫貯存試驗(High Temperature Storage Test) : 在高溫的狀態(tài)下,使組件加速老化。可使電氣性能穩(wěn)定,以及偵測表面與結(jié)合缺陷。

      · 低溫貯存試驗(Low Temperature Storage Test) : 在極低的溫度下,利用膨脹收縮造成機械變型。對組件結(jié)構(gòu)上造成脆化而引發(fā)的裂痕。

      · 溫濕度貯存試驗(Temperature Humidity Storage Test) : 以高溫潮濕的環(huán)境,加速化學反應造成腐蝕現(xiàn)象。測試組件的抗蝕性。

      · 高溫水蒸汽壓力試驗(Pressure Cook Test)/高加速溫濕度試驗(High Acclerate Stress Test) : 與溫濕度貯存試驗原理相同,不同地方是在加濕過程中,壓力大于大氣壓力,更加速了腐蝕速度,引發(fā)出封裝不佳的產(chǎn)品,內(nèi)部因此而腐蝕。

      · 溫度循環(huán)試驗(Temperature Cycling Test) : 使零件冷熱交替幾個循環(huán),利用膨脹系數(shù)的差異,造成對組件的影響。可用來剔除因晶粒﹑打線及封裝等受溫度變化而失效之零件。

      · 溫度沖擊試驗(Thermal shock Test) : 基本上跟溫度循環(huán)試驗原理一樣,差異是加快溫度變化速度。測定電子零件曝露于高低溫情況下之抗力,可以偵測包裝密封﹑晶粒結(jié)合﹑打線結(jié)合﹑基體裂縫等缺陷。

      · 高溫壽命試驗(High Temperature Operating Life Test) : 利用高溫及電壓加速的方法,在高溫下加速老化,再外加訊號進去,仿真組件執(zhí)行其功能的狀態(tài)。藉短時間的實驗,來評估IC產(chǎn)品的長時間操作壽命。

      · 前處里(Precondition Test) 對零件執(zhí)行功能量測﹑外觀檢查﹑超音波掃瞄(SAT) ﹑溫度循環(huán)(Temperature Cycling ) ﹑烘烤(Bake )浸濕( Moisture Soak )等程序。仿真組件在開始使用前所經(jīng)歷的運輸、儲存、回焊等變化做為其它可靠性試驗之前置處理。


      運送測試(Transportation Test)

      · 震動測試(Vibration Test):仿真地面運輸或產(chǎn)品操作使用時,所產(chǎn)生的震動環(huán)境。將構(gòu)裝組件結(jié)構(gòu)內(nèi)原有的缺陷,經(jīng)由震動行為加速缺陷的劣化狀況,進而導致組件機制失效。

      · 機械沖擊測試(Mechanical Shock Test):將試件在一定的高度上,沿斜滑軌下滑與底部的障礙物相撞,而產(chǎn)生沖擊。將構(gòu)裝組件結(jié)構(gòu)內(nèi)原有的缺陷,經(jīng)由沖擊行為加速缺陷的劣化狀況,進而導致組件機制失效。

      · 落下測試(Drop Test):把裝有試件的工作臺上升到一定高度,突然釋放而跌落,與底部的鋼板或水泥板相撞而發(fā)生沖擊。評估產(chǎn)品因為跌落,于安全條件需求下*小的強韌性。


      電磁干擾測試(EMS Test)

      · 靜電測試

      · 電性拴鎖測試

      · 電磁波干擾測試

      · 測試條件

       

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